蔚華科技驗證工程處通過 ISO9001:2005，IECQ17025以及TAF之品質認證，提供顧客高品質與有系統之服務。 驗證工程處故障分析實驗室提供包含 EFA 與 PFA 之實驗設備與工程技術支援之服務，以滿足顧 客多面向化之需求。 驗證工程處之技術專家除提供設備服務外，並協助顧客新產品導入量產，量產後之良率改善與品質提升。

DFA

Dynamic Failure Analysis (DFA) 動態故障分析

InGaAs-EMMI 砷化鎵銦微光顯微鏡
DLS 動態雷射掃描
DEMMI 及時動態微光顯微鏡

EFA Lab

Probe Station:	晶片與系統版之主動 (Pico) 與被動之訊號偵測
COB:	PCB 快速打線服務
Static EMMI:	微光顯微鏡 (EMMI)
SLS:	雷射光電阻異常偵測 (OBIRCH)
CAFM:	原子力顯微鏡
TDR:
EMI :
HP4155	半導體元件參數量測
T-2500SE Thermal Head	元件溫度特性實驗

 

Physical FA Lab

提供從基礎領域至先進領域之各層面的 PFA 需求：

X-Ray:
De-encapsulation
De-Layering/ RIE:	離子反應蝕刻 , 乾蝕刻與濕蝕刻
Polish:	正面與反面研磨去層次
SEM:	電子顯微鏡具 (EDS 進行材質分析 )
SAT:	超音波掃描顯微鏡
Laser:	雷射切割
OM:	高解析度光學顯微鏡
TEM:	穿透式電子顯微鏡
Reverse	IC 逆向工程