從LED到系統LSI的大口徑Wafer，可適用於HBM和MM的放電
ESD印加後，可根據漏電流測試判斷pass/fail
並且可以與ESD測試有關聯性的TLP測試設備進行組合測試
對ESD測試中發生問題的器件，能有效取得保護電路中的工作參數
是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。（滿足JEITA/ESDA/JEDEC規格）
HANWA成立於1966年，總部設立在日本，是日本最大的ESD測試設備製造商。在晶片研發、生產、成品可靠性測試等階段提供全面Solution。 HANWA提供ESD，TLP，CDM，Latch-up等靜電放電測試設備，是全球唯一擁有Wafer Level及Package Level ESD Tester的設備供應商。產品覆蓋Design House Fabless、Fab、OSAT等各應用領域，並可依照客戶需求提供客制化解決方案。
