感測器測試

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In-MEMS

In-MEMS

單一封裝的高並行測試

InMEMS 概念結合特定微機電模組至Multitest InStrip®,使料條測試的優點可擴展至微機電測試,進行高並行測試與穩定處理小封裝元件。

Multitest InCarrier® 也將這些優點延伸至單一元件,單一封裝被放置在被稱為InCarrier®的載盤內,並在Multitest InStrip®進行測試。

產品特性

  • 微機電模組容易對接或解除對接至標準測試分類機
  • 完整的三溫(高溫、常溫與低溫)測試
  • 容易轉換至其他封裝
  • 縮減獨立工程作業設定協定
  • 專業服務團隊提供全球技術支援

適用範圍

  • 輕薄小巧的元件 (1 x 1 mm)
  • 最高九軸組合型感測器
  • 高重力加速度計
  • 低重力加速度計
  • 恆定速率陀螺儀
  • 正弦激勵陀螺儀
  • 胎壓偵測系統與大氣壓力
  • 電磁場應用
  • 光感測器
  • 震盪器
  • 麥克風測試
  • 濕度與環境感測器