料條式分類機

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InCarrier®

InCarrier®

載具內測試

Multitest InCarrier® 是結合單一元件測試與高並行測試的優點,以類料條元件載具裝載單元件的製程。

InCarrier® 在測試廠的物料流與現存的標準流程類似,與料條測試不同的地方,InCarrier® 採用先切單後測試的方法,如此成品測試才是真正的成品測試。此種方法克服了料條測試的限制並滿足車用 6 sigma - 0 PPM 的需求。

利用類料條設計的 InCarrier® 可確保即使是最小的元件,在高並行測試下也能保有健全的測試處理。

InCarrier® 的裝載支援所有後段製程的標準輸送媒介:

  • Tube
  • Bulk
  • JEDEC Tray
  • Wafer Ring

產品特色

  • 使用 Multitest 裝載設備裝載至類料條元件載具
  • 支援後段製程的標準輸送媒介
  • 利用 Multitest InStrip® 予單一封裝
  • 提供所有 InStrip® 設定的特點
  • 完全可追溯性

特點

  • 即使最小的封裝也能有健全的測試處理
  • 高並行測試
  • 對於裝載、測試與卸載可靈活設定產線
  • 支援晶圓級測試與預燒測試
  • 使用同設備進行單一元件重測

適用範圍

  • 含鉛與無鉛元件
  • 大型封裝與小至1x1 mm的小封裝
  • 積體電路測試
  • 微機電校準測試
  • 晶圓級封裝