IC測試座

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Kelvin

Kelvin

nanoKelvin® - 通用Kelvin測試座適用於高功率PTB應用

產品特性

  • 完全的Kelvin能力並整合PTB介面
  • 簡易維修
  • 單片一體成型設計,提供絕佳電性能重複性
  • 節省測試費用
  • 測試載板設計簡便又經濟

適用範圍

  • 微小間距有腳位及無腳位晶片(CSPs,小尺寸QFN, SO, SOT和QFP)
  • 適用標準與PTB的應用
  • 適用於所有IC分類機廠牌及型號
  • 適用於無鉛製程晶片

Gemini™ Kelvin - 通用Kelvin測試座適用於高功率PTB應用

產品特性

  • 基於Quad Tech™ (雙叉式連接)
  • 適用於引腳與全排應用的Kelvin測試介面
  • Kelvin雙探針間距最小可達 0.083mm,適用於極小物件
  • 經測試環境的數千測試座量產驗證
  • 耐用探針,使用壽命長
  • 絕佳目標穩定度,打造卓越直通率
  • 專為無引腳產品設計鍍層

適用範圍

  • 電源控製器、資料轉換器、增幅器與放大器
  • 接觸電阻會影響量測的所有裝置
  • 高頻應用可達 60 GHz
  • 最小間距到 0.3mm
  • 全排距可到 0.4mm
  • 單一裝置、整片測或晶圓級測試

DURA®Kelvin - SO電源晶片最佳測試座

產品特性

  • 最大電流可到50安培
  • 單片式一體成型設計擁有絕佳電信再現性
  • 簡易維修
  • 壽命可以超過100萬次的接觸

適用範圍

  • 有腳位晶片: SO, SOP, SSOP, TSSOP, MSO
  • 無鉛製程晶片
  • 最小間距到0.5mm
  • 三溫測試: -55°C ~ 200°C
  • 適用於所有IC分類機廠牌及型號

ecoAmp™ - SO電源晶片最佳測試座

產品特性

  • 針對高功率電源IC 測試的應用,耐電流超過1000 安培
  • 低而且穩定的阻值
  • 最高測試的溫度可以達到175°C
  • 最佳化設計可減少熱應力的影響
  • 壽命可以超過100萬次的接觸
  • 接觸式設計電路板端

適用範圍

  • 適用於 QFP, SO, TO, DPAK 封裝及電源模組.
  • 最小間距到 0.5mm
  • 溫度應用範圍: -60°C ~ 175°C