蔚華的先進IC設計輔助工具與平台可提供精確的可測性設計/內建自我測試(DFT/BIST),及診斷與特性測試,以達到最佳化生產與效能。


產品類別:

可測性設計/內建自我測試 診斷與特性測試
嵌入式測試
混合信號內建自我測試
矽除錯
良率提升
動態時序分析
熱點放射顯微鏡
正面與背面微電路修補
雷射掃描