蔚華的先進IC設計輔助工具與平台可提供精確的可測性設計/內建自我測試（DFT/BIST），及診斷與特性測試，以達到最佳化生產與效能。
產品類別：
診斷與特性測試
動態時序分析
熱點放射顯微鏡
正面與背面微電路修補
©2010 著作權所有 蔚華科技股份有限公司
隱私權保護政策
