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 動態時序分析 Credence Emiscope 動態時序分析的光子放射顯微鏡允許微微秒級解析度與高頻寬時序量測。EmiScope是用於設計偵錯與故障分析的完全非侵入式IC診斷平台。它可使用微微秒準確度從覆晶晶片與引線接合封裝IC內任何電晶體邏輯切換動作時序資訊測量。EmiScopes採用全世界用來解決最富挑戰性電路問題的尖端技術。 
熱點放射顯微鏡 Credence EFA for EMMI 本產品提供故障分析與良率提升工程師在電晶體節點上的非常微弱放射信號與動態/靜態雷射掃描空前的偵測能見度。用於正面或背面(經由矽基材)探測，進行設計除錯與故障分析的高敏感度光學診斷平台可提供非常高的信號雜訊比、與特別的空間解析度，以發現不正常的熱點放射情況。隨著它的高度靈敏偵測器、高數值孔徑 (NA) 紅外線光學設計、與先進的缺陷定位軟體能力，Credence EFA for EMMI明顯可減少整體缺陷定位的困難度與處理耗時的問題。
正面與背面微電路修補 Credence OptiFIB OptiFIB是第一個且唯一可將光子與離子光學組合在一共軸柱的聚焦離子束 (FIB) 儀器，以提供導航疊圖的即時影像、及正面或背面電路修補無可比擬之銑切精確度。同時卓越的共軸柱與光子光學可看穿矽材質，以正確排列FIB與CAD影像，並可相當精密的同時進行鑽孔。
雷射掃描 Credence GlobalScan GlobalScan可正確指出複雜設計與製程問題的雷射掃描顯微鏡。它可用於動態與靜態雷射掃描應用。在動態雷射掃描模式中，GlobalScan可發現電路造成熱、速度、電壓、或其他效能邊際的問題點。在靜態雷射掃描模式中，GlobalScan可發現應用ATPG方法時常錯過的缺陷來源。系統內建構的雙重雷射掃描可涵蓋從電阻性通道到電性遷移的廣泛缺陷範圍。
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熱點放射顯微鏡 正面與背面微電路修補 雷射掃描 
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