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 嵌入式測試 LogicVision嵌入式記憶體測試 (EMT) LogicVision EMT設計係以提供真正按正常工作速度之記憶體測試解決方案，以降低產品退貨率。透過適用各式嵌入式記憶體之內建晶片上演算法，產生測試樣式，提供跨任一數目之時域與頻率的記憶體測試。隨著RTL碼測試規則檢查、測試規劃與整合，EMT可透過減少可測性設計所需測試時間，縮短產品上市時間。 
具修復能力的LogicVision EMT 經最佳化按正常工作速度測試設計的EMT-Repair，可按應用速度決定其設計。EMT控制器可支援多種記憶體類型、以及不同記憶體時序介面與記憶體埠結構。內建修復分析 (BIRA) 電路安置於可修復記憶體周邊，且任何數目的可修復記憶體可透過單一EMT控制器支援。修復分析也可用於包含冗餘記憶體方塊、列或O/I欄記憶體。
LogicVision可程設EMT 經最佳化按正常工作速度測試設計的EMT-PG，可按應用速度決定其設計。。EMT控制器可支援多種記憶體類型、以及不同記憶體時序介面與記憶體結構。根據可能造成現場退貨與產品上市的新缺陷類型，EMT-PG允許在設計加入任何由使用者定義之測試演算法之程式碼硬體電路，或在實際測試時載入晶片測試程式碼。EMT-PG可支援具一讀/寫邏輯埠的嵌入式DRAMs或SRAMs、SDRAM、EDO、與用於DRAMs的頁模式協定。
LogicVision記憶體嵌入式外部測試 LogicVision可提供多數SRAM與DRAM記憶體的可程式記憶體內建自我測試解決方案，包括利用例如DDR與QDR記憶體的burst操作模式。執行測試時可程式演算法的外部可程式記憶體內建自我測試可提供使用者彈性，以自訂客製化執行記憶體測試，無需依賴ASIC設計者將所有可能的演算法程式碼組合以硬體電路方式預先建置於控制器。可明顯減少由於發現新缺陷類型，以致不能使用標準測試演算法，而必須另採不同記憶體測試功能的風險。
LogicVision嵌入式邏輯測試 ETLogic係已經工業界實際採用之嵌入式測試與量測智財與對應的設計自動化軟體，用於數位邏輯電路按正常工作速度測試與診斷。此產品的隨機測試樣式產生之方法可在測試時間與品質間提供最效取捨。ET-Logic具專利的burst模式測試時序結構可提供實際按正常工作速度測試應用，不管採用之時域或頻率的數目，且不會有雙補捉時序測試方法相同的測試時間與診斷上的缺點。
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混合信號內建自我測試 矽除錯 良率提升 
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