混合信號內建自我測試
LogicVision嵌入式SerDes測試 (EST)
LogicVision EST使用典型標準串列迴路，可結構性測量及測試SerDes效能。不像傳統以規格為主之測試，EST可透過個別眼狀圖特徵參數與眼狀圖取樣，分析判斷眼狀圖失真，執行以診斷為主之測試。並以高速與低成本，透過使用無時間解析度限制的電路，在SerDes核心設計期間確認設計者所考慮的參數。


  • 5步驟RTL具體化流程
  • 加速矽生成 (偵錯、特性測試、與測試產生)
  • 在任何測試機台上，按正常工作速度之晶圓與封裝測試

銷售服務地區：台灣、大陸

 





LogicVision嵌入式PLL測試
LogicVision PLL BIST提供用於模組化與完整類比鎖相迴路獨立之特性測試與生產測試功能。PLL BIST可用於數百萬閘數、需準確時序之ASICs必要性內建晶片PLL參數測試。


  • 數位測量：
  • 抖動：相關時序或週期、RMS或峰對峰抖動參數
  • 開迴路增益：用於±相位變化
  • 鎖像：最小/最大VCO頻率
  • 鎖時：用於±頻率變化、相位或頻率鎖定
  • 強有力自動化軟體的嵌入式測試結構
  • 可使用低成本數位測試機台的PLL按正常工作速度測試

銷售服務地區：台灣、大陸





LogicVision1149.6邊界掃描
LogicVision 1149.6邊界掃描單元的自動產生、整合與確認。提供GHz連接介面的高錯誤涵蓋範圍與較佳診斷，達成快而簡單之完整電路與IC的測試。


  • 相容與符合1149.1規範
  • 每輸入腳位的磁滯比較器與選擇性低頻濾波
  • 可產生RTI時序脈波同步輸出邊緣

銷售服務地區：台灣、大陸




 

嵌入式測試
混合信號內建自我測試
矽除錯
良率提升


混合信號內建自我測試


台灣:
Cynthia_Chen@spirox.com.tw
Tel. +886-3-5738099 ext. 2029

大陸:
Judy_Lee@spirox.com.tw
Tel. +86-21-5080-4106

 
    ©2006 著作權所有 蔚華科技股份有限公司 隱私權保護政策