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 矽除錯 LogicVision ETAccess LogicVision ETAccess交談式軟體環境透過LogicVision嵌入式測試智財，加速矽偵錯與特性測試。可減少測試的成本與時間，加速矽生成，減少達成高良率所需時間，並使用無向量測試與除錯方法，可供在任何測試機台(ATE)上即時與自動診斷。 
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混合信號內建自我測試 矽除錯 良率提升 
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