邏輯
Aetrium 55V8
55V8係具備同時測試四顆IC並測的測試裝置、高產出 (24K
UPH@350毫秒測試時間
,僅250毫秒作動時間)且具備高溫、常溫及低溫功能等三溫功能之IC測試分類機
可同時並測四顆或兩顆IC的測試裝置且同一機台可安裝兩組不同封裝尺寸的更換配件。
獨家設計的旋轉測試座,僅需250毫秒的作動時間
用於QFN (3x3mm~10x10mm)) 與SO、MSOP、TSSOP、SSOP的封裝產品。
可分離式的低溫裝置系統,省下液態氮的成本
銷售服務地區:台灣、大陸
Aetrium 55V6
Aetrium 55V655V6係具備同時測試兩顆IC的測試裝置、高產出 (12K
UPH@350毫秒測試時間
,僅250毫秒作動時間)且具備高溫、常溫及低溫等三溫功能之IC測試分類機
可同時測兩顆IC的測試裝置且同一機台可安裝兩組不同封裝尺寸的更換配件。
獨家設計的旋轉測試座,僅需250毫秒的作動時間
用於QFN (3x3mm~10x10mm)) 與SO、MSOP、TSSOP、SSOP的封裝產品
可分離式的低溫裝置系統,省下液態氮的成本
銷售服務地區:台灣、大陸
Aetrium 8832
本系統具備高產出 (24K UPH @ 0測試時間,150毫秒作動時間)、高溫功能選配裝置,是一台可同時完成測試與捲帶封合的全功能IC測試分類機。
用於QFN (1x2mm~12x12mm)與SOT的封裝產品IC測試分類機
多種供料方式(Tube, bulk, tray to tape)
常溫或常/高溫的功能
可直入測試座的測試模式
最多可同時並測八顆IC
銷售服務地區:台灣、大陸
Aetrium 5800
本系統是8-每個讀取頭、高溫度選項、測試與捲帶式複合、低成本的迴轉處理器。本系統具備八個獨立作動的吸取頭,高溫功能選配裝置,是一台可同時完成測試與捲帶封合的全功能IC測試分類機
用於QFN (1x2mm~12x12mm)與SOT的封裝產品IC測試分類機
多種供料方式(Tube, bulk, tray to tape)
常溫或常/高溫的功能
可直入測試座的測試模式
最多可同時並測八顆IC
銷售服務地區:台灣、大陸
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