記憶體模組測試
Tanisys M1K
M1K是最具經濟效益的DDR裝置測試解決方案,可測試800MHz+DDR/DDR2/DDR3裝置與模組,包括FB-DIMM。


  • 高平行與高效率的顆粒及模組測試能力
  • 彈性的速度測試時序結構
  • 全面的演算法圖案產生與大規模的測試能力
  • DNA結構提供容易的工程製造途徑
  • 完全地整合發展環境與工具 

銷售服務地區:台灣、大陸、新加坡





Tanisys M600
本系統是用於DRAM模組測試的強大平台,可提供多達533MHz操作模組件的DDR-II支援。


  • 支援184、200與240接腳JEDEC-DIMMs、144與200接腳JEDEC-sodimm
  • 選項-shmoo繪圖與位元映射
  • 選項-自動時序工具
  • 選項邊際限度工具
  • 選項 scripting工具
  • 選項MemTest PC診斷
  • 選項顆粒測試支援
  • 高達533MHz速度

銷售服務地區:台灣、大陸、新加坡





Tanisys M500
此系統是現階段快存記憶卡測試的領先平台。支援的格式包括CompactFlash、MMC、SD、記憶卡、USB卡、與甚至專營卡格式。


  • MMC、SD、記憶卡、CompactFlash、USB
  • 記憶體類型間的快速製造轉換設計
  • 可量產結構
  • 手測最大產出設計
  • 容易整合到自動化分類機

銷售服務地區:台灣、大陸、新加坡



 

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記憶體模組測試


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