|
||||||||||||||||||||||||||
 非揮發性記憶體(NVM)測試 Credence Kalos 2 本系統提供給下一代元件測試的速度，大量平行同時測試以減少測試成本。隨著測試多種元件的彈性，K2可提供一個完整的解決方案，其中包括工程用元件特性分析、晶圓針測與最終測試都可使用同一平台。K2也提供用於元件特性分析與製造量產時所需的整個完整軟體。 
Credence Personal Kalos 2 本系統是用於非揮發性記憶體 (NVM) 裝置的下一代桌上型測試系統。基於Credence的創新Tester-on-a-Chip™ (ToC) 結構，PK2 提供業界領先200MHz效能以及相同速度的Error Capture RAM(ECR)和使用硬體加強的冗餘分析 RA。它是現階段在業界裡提出關於揮發性記憶體 (NVM) 的唯一桌上型工程測試用系統，包括NOR型與NAND型快閃記憶體、串列快閃記憶體、與嵌入式快閃記憶體、以及相關的數位邏輯元件與其他主流記憶體元件。
Credence Kalos Hex 本系統是為量產製造所需而設記的第一個快閃記憶體測試系統。Kalos將50MHz效能與16端平行測試能力結合在單一系統。Kalos測試系統可透過在每個元件後面放置一部測試系統而可達成無敵的非揮發性記憶體 (NVM) 測試產出。透過積極使用它深次微米CMOS ASIC專門技術，Credence已將48接腳、50MHz測試系統設計在單一主板上。Kalos包含多達16個此種 "卡片"，以提供每個DUT整個點的獨立自主性。此創新的卡測試系統結構使Kalos可逹成高水準效能與現階段任何非揮發性記憶體ATE系統相比的最小佔用空間。
Credence Personal Kalos 1 Series 本系統是第一個快閃記憶體與以快閃記憶體為核心的微控制器元件的測試系統，尤其是設計來符合測試工程所需要。Personal Kalos可提供全部相同48輸入/輸出接腳、50MHz測試點以及所有kalos 使用的軟體於桌上型系統配置。創新的集合所有測試功能在單一主板上的架構使得Kalos在現階段可用任何非揮發性記憶體 (NVM) ATE系統上使用最小佔用空間，且Personal Kalos將此結構與效能帶進實驗室中提給工程師應用。
|
 
射頻與線性 NVM測試 記憶體模組測試 
Laura_Kao@spirox.com.tw Tel. +886-3-5738099 ext. 2019 大陸:
|
|||||||||||||||||||||||||
