設計除錯
蔚華科技電性實驗室使用Emiscope/E-Beam做IC內部電路針測與動態時序分析。

技術服務特色:
  • 無侵入性信號針測
  • 10微微秒精確度
  • 高解析度固態沈浸透鏡- NEXS CAD導航疊圖軟體

故障分析
電性實驗室蔚華科技電性實驗室通過ISO 9001:2000與IECQ兩項認證並使用紅外線探測顯微鏡 (IREM) 服務顧客;相關服務包括:問題諮詢、專案故障分析或問題完整之解決對策。

技術服務特色:
  • '熱載子' 光輻射,IC背面與正面探測
  • '熱點' 熱輻射 (歐姆性短路),IC背面與正面探測
  • 故障分析功能之動態紅外線探測




 

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IC驗證中心
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Tel. +886-3-6669700