蔚華科技驗證工程處通過 ISO9001:2005，IECQ17025以及TAF之品質認證，提供顧客高品質與有系統之服務。
驗證工程處故障分析實驗室提供包含 EFA 與 PFA 之實驗設備與工程技術支援之服務，以滿足顧 客多面向化之需求。 驗證工程處之技術專家除提供設備服務外，並協助顧客新產品導入量產，量產後之良率改善與品質提升。
Physical FA Lab
提供從基礎領域至先進領域之各層面的 PFA 需求：
| X-Ray: |
|
| De-encapsulation |
| De-Layering/ RIE: |
離子反應蝕刻 , 乾蝕刻與濕蝕刻
|
| Polish: |
正面與反面研磨去層次 |
| SEM: |
電子顯微鏡具 (EDS 進行材質分析 ) |
| SAT: |
超音波掃描顯微鏡 |
| Laser: |
雷射切割 |
| OM: |
高解析度光學顯微鏡 |
| TEM: |
穿透式電子顯微鏡 |
| Reverse |
IC 逆向工程
|
| EFA Lab |
|
| Probe Station: |
晶片與系統版之主動 (Pico) 與被動之訊號偵測 |
| COB: |
PCB 快速打線服務 |
| Static EMMI: |
微光顯微鏡 (EMMI)
|
| SLS: |
雷射光電阻異常偵測 (OBIRCH)
|
| DEMMI: |
動態微光顯微鏡 (Dynamic EMMI)
|
| DLS: |
動態雷射異常掃描偵測 (Dynamic Laser scan)
|
| CAFM: |
原子力顯微鏡 |
| TRE: |
積體電路晶體元件級之時序訊號量測 (Emiscope)
|
| E-Beam: |
電子束電路內部訊號量測
|
| ATE: |
測試機支援故障分析 |
| HP4155
|
半導體元件參數量測
|
| T-2500SE Thermal Head
|
元件溫度特性實驗
|
|
