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IC設計工具	可測性設計/內建自我測試診斷與特性測試	可測性設計/內建自我測試嵌入式測試混合信號內建自我測試矽除錯良率提升診斷與特性測試動態時序分析熱點放射顯微鏡正面與背面微電路修補雷射掃描
晶圓製造設備	檢測設備量測機台製程設備	檢測設備明視野晶圓檢驗系統深紫外線光源晶圓檢驗系統缺陷再檢測SEM系統電子束檢驗系統量測機台線幅量測系統廣域原子力量測系統電容-電壓/電流-電壓量測系統晶圓厚度測量系統製程設備化學機械研磨機氣體流量控制器單一晶片式熱傳導式化學氣相沉積系統常壓游離質譜儀晶圓邊緣洗淨系統快速熱處理設備轉子/再磨光旋轉洗滌乾燥機乾燥真空泵
測試與封裝	測試機晶圓針測機 IC分類機探針卡包裝與封裝零配件	測試機 oC測試射頻與線性測試非揮發性記憶體(NVM)測試記憶體模組測試
工廠自動化	物料流自動化 CIM自動化	物料流自動化物料自動搬運系統(AMHS) CIM自動化晶圓針測自動化網路系統物料傳輸控制系統
測試與測量工具	高階示波器邏輯分析儀信號源即時頻譜分析儀訊號整合分析設備數位時脈系統	-
服務與解決方案
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