AFORE Oy
芬蘭商AFORE專注提供晶圓級(Wafer level)MEMS IC測試方案，提供low invest cost，和高UPH方案。AFORE已經得到眾多國際知名MEMS廠商品質驗證通過，可以實現加速計，陀螺儀，TPMS，環境和氣體等不同的MEMS IC測試。為了提供Lab級研發和小批量測試，AFORE經過多年完成了實驗室機台的METIS 。
蔚華科技是全球許多國際知名品牌大廠重要的策略合作夥伴，以深耕市場三十餘年的專業能力及團隊，為大中華區半導體業提供極具競爭力的全方位解決方案與服務。
芬蘭商AFORE專注提供晶圓級(Wafer level)MEMS IC測試方案，提供low invest cost，和高UPH方案。AFORE已經得到眾多國際知名MEMS廠商品質驗證通過，可以實現加速計，陀螺儀，TPMS，環境和氣體等不同的MEMS IC測試。為了提供Lab級研發和小批量測試，AFORE經過多年完成了實驗室機台的METIS 。
ERS electronic GmbH 總公司設立於德國，致力於提供半導體產業創新的晶圓溫度測試解決方案逾 50 年；ERS 開發及生產之熱卡盤系統系列產品：AC3、AirCool © 、AirCool © Plus 及 PowerSense © 銷售全球，是大尺寸晶圓針測機中不可或缺的產品。ERS 還開發eWLB制程設備，用於去載板和去載板後的產品去翹曲。超過10年的服務該領域，不斷完善設備和工藝。ERS可以為客戶提供優良的FOWLP和FOPLP的優良的工藝設備，以及保證工藝完成的De-warpage設備。
EXICON成立於2001年，隸屬于韓國YIKC集團，十多年來投入大量研發資源開發記憶體測試設備，不論在產能、產品性能或是產品可靠度上都深受客戶肯定，具有數十項產品專利，亦取得ISO等多項認證，擅於DRAM/FLASH TEST等FT服務。
日本濱松光子學株式會社（HAMAMATSU）是全球光子技術、EFA領域的領導品牌。自1953年成立以來，EFA失效分析產品銷往全球半導體各大企業，擁有數量最多的半導體業及面板業客戶。HAMAMATSU為客戶提供EFA失效分析領域的缺陷定位解決方案，開發的微光顯微鏡是業界主流的高解析度熱點定位設備，且擁有多項專利產品。設備具備Thermal，EMMI，OBIRCH等分析功能方法。
HANWA成立於1966年，總部設立在日本，是日本最大的ESD測試設備製造商。在晶片研發、生產、成品可靠性測試等階段提供全面Solution。HANWA提供ESD，TLP，CDM，Latch-up等靜電放電測試設備，是全球唯一擁有Wafer Level及Package Level ESD Tester的設備供應商。產品覆蓋Design House Fabless、Fab、OSAT等各應用領域，並可依照客戶需求提供客製化解決方案。
INTEKPLUS CO., Ltd. 自1995年成立以來，一直致力於在自動光學檢測領域建立獨一無二的核心技術，並擁有非常專業的研發團隊。在2D和3D視覺檢測領域創造了新的歷史，並以成為全球領先的半導體封裝和PCB檢測設備的領先供應商作為目標。除了在韓國市場多年的卓越表現外，Intekplus在東南亞、台灣及中國半導體市場的推廣也有亮麗的成績。
Osai成立於1991年，2011年成立半導體事業部，為半導體業客戶提供精准且可靠的量產封測設備。Osai總部位於義大利，於美國、德國、中國皆有服務據點，並有近50家合作夥伴為客戶提供第一線服務。。
SEMICS 總公司設立於韓國，旗下OPUS3 SP/HD 是全球最具競爭力的全自動針測機，可直接測試生產 6”、8”及12”半導體業界標準矽晶圓，還可以使用為更小佈局的平台產品。此外，為了支援更多設備，OPUS3提供較快的轉位時間（Index time），還提供多種溫度選項提供客戶選擇。SEMICS OPUS系列產品為半導體晶圓級測試的重要解決方案，多樣且專業的功能性可滿足客戶的需求，為客戶的產品提供更高價值服務。
ShibaSoku於1955年成立，以音訊測試起家，經歷過電視機及通信用測試裝置開發製造，並具有超過四十年的半導體測試設備開發生產經驗，近年專注高功率半導體測試，透過與日系車廠、電器廠商的合作，持續累積在功率半導體測試的核心競爭力。
STi是總部位於韓國的面板及半導體設備製造公司，其產品包含中央化學供酸系統、濕製程設備、OLED噴墨打印機、Foup清洗機和應用於半導體晶圓級封裝（Wafer Level Package）製程的真空迴焊設備, 濕式噴砂機, 以及面板級封裝（Panel Level Package）製程用濕製程設備等產品。STi成立20年來, 產品深獲客戶信賴, 客戶遍及台灣、中國、 韓國、日本,東南亞以及其它歐美系客戶。
東麗工程株式會社（Toray Engineering Corporation）是總部位於日本的綜合性工程及自動化生產設備製造公司，其業務包括生產和銷售用於平板顯示器及半導體生產的自動化生產檢測設備及各種製造業使用的檢測與監控儀器等。Toray 旗下INSPECTRA系列AOI在提供超高精度的晶圓表面缺陷全自動檢測的同時， 具有速度快，穩定度高的特點。此外，TORAY INSPECTRA AOI對Bumping, Sawn Wafer 等製程提供有效並獨特的檢測方案。Toray 還提供業內高精度的TCB/FC設備，用於chip to wafer/ substrate的 高精度die bonding solution。 同時，Toray可以提供客戶不同應用的設備，FC/TCB bonder有不同精度速率和設備來達到客戶不同的需求。
Translarity為美國矽谷新創品牌，提供各式探針卡及探針頭的解決方案以因應客戶不同PIN數的測試需求，並發展RF、記憶體等不同產品測試應用之探針卡。
Turbodynamics專精於半導體產業的系統整合與連接技術，在分類機、探針/測試機的配置上都提供值得信賴的解決方案。
Wintest Corp.於1993年成立，為日本東京證券交易所二部的上市公司（股票代碼6721），總部位於日本神奈川縣，擅長半導體測試（CCD及CMOS圖像傳感器）、高附加價值FPD測試（OLED、LTPS/HTPS、LCOS）、混和信號裝置之測試。
成立於1933年的YIKC是韓國發展半導體產業的重要推手之一，多年來持續大量投入研發資源，開發記憶體測試設備，不論在產能、產品性能或是產品可靠度上都深受客戶肯定，合理價格提供的優質測試平臺在韓國具有可觀的市占率，更是韓國三星等國家重點扶植企業的重要策略合作夥伴。