新闻中心

HOME / 新闻中心 / 新闻讯息




回上页
2015-06-30

DCG Systems 收购MultiProbe™ 打造完备纳米探针产品组合

DCG Systems®今天宣布收购MultiProbe™的资产。MultiProbe是半导体产业中以原子力显微镜为平台纳米探针系统的领先提供商。MultiProbe创立于2001年,旨在满足失效分析工程师日益增长的需求,帮助半导体行业为纳米器件技术开发寻找解决方案。DCG旗下的MultiProbe将继续在加州圣巴巴拉运营。

MultiProbe的旗舰产品Hyperion™ 利用原子力探针(AFP)技术,提供晶体管的电性分析和缺陷定位功能。MultiProbe系统还有一个PicoCurrent™成像的模式,可以同时显示晶体管结构图和电导图。工程师因此能藉此够快速发现异常特征,再通过对晶体管扎针进一步分析。

DCG的旗舰纳米探针系统nProber II™ 建立在扫描电子显微镜(SEM)平台上。和Hyperion一样,nProber II系统也提供晶体管的电性分析和缺陷定位功能。nProber II还可在EBC的模式下,将在表层和表层下导线的短路、开路及阻抗缺陷给定位。

DCG Systems首席执行官Israel Niv 博士和MultiProbe创始人、首席执行官Andy Erickson先生签署收购协议
nProber II™DCG SEM平台纳米探针系统
Hyperion™DCG AFP平台纳米探针系统

DCG Systems, Inc.首席执行官Israel Niv博士表示:“MultiProbeAFP纳米探针系统与DCG SystemsSEM纳米探针产品构成完美组合。这两项不同技术的整合将有助合并后的公司来更有效地解决客户现在和将来所面临的各种导致良率不高的电气缺陷问题。”

MultiProbe创始人、首席执行官Andy Erickson表示:“纳米探针在良率工程中变得日益重要。在这样一个时刻,我很高兴将MultiProbe交付给DCG Systems。此外,合并后客户也会因全球应用和服务团队整合而受益。”

根据一家同时使用HyperionnProber II的先进半导体厂商评论:“为加快良率提升速度,我们广泛采用导电原子力显微术(CAFM)和PicoCurrent成像技术来为晶体管缺陷定位,以及采用EBC来为金属层缺陷定位。同时这两种纳米探针系统都用于我们的最先进工艺的晶体管电性分析。”

HyperionnProber II纳米探针系统已被全球众多客户用于10纳米级器件的开发和良率提升。

关于蔚华科技
蔚华科技成立于 1987 年,总公司设于台湾新竹。蔚华科技提供半导体、平面显示器、微机电系统与其他高科技产业相关产品及整合性服务。从IC设计、晶圆制造、封装、测试、验证、诊断与特性分析、量测工具、生产信息系统整合等的研发、制造、通路销售及技术支持之领导厂商。目前全球据点遍及台湾、美国、中国大陆以及香港。蔚华科技网址:www.spirox.com.tw

关于DCG Systems
DCG Systems, Inc.是行业领先的电气失效分析和定位,以及电路微修改设的备供货商。服务于广大半导体和电子制造商以从事工艺开发、良率提高和失效分析应用。DCG Systems已在全球部署了超过1500套系统,通过位于加州弗里蒙特的总部以及设在美国、日本、台湾、韩国、马来西亚、新加坡、以色列和德国的办事处为全球客户提供服务。了解DCG Systems的详情,请访问:www.dcgsystems.com