DCG Systems®今天宣佈收購MultiProbe™的資產。MultiProbe是半導體產業中以原子力顯微鏡為平臺納米探針系統的領先提供商。MultiProbe創立於2001年，旨在滿足失效分析工程師日益增長的需求，幫助半導體行業為納米器件技術開發尋找解決方案。DCG旗下的MultiProbe將繼續在加州聖巴巴拉運營。
MultiProbe的旗艦產品Hyperion™ 利用原子力探針（AFP）技術，提供電晶體的電性分析和缺陷定位功能。MultiProbe系統還有一個PicoCurrent™成像的模式，可以同時顯示電晶體結構圖和電導圖。工程師因此能藉此夠快速發現異常特徵，再通過對電晶體扎針進一步分析。
DCG的旗艦納米探針系統nProber II™ 建立在掃描電子顯微鏡（SEM）平臺上。和Hyperion一樣，nProber II系統也提供電晶體的電性分析和缺陷定位功能。nProber II還可在EBC的模式下，將在表層和表層下導線的短路、開路及阻抗缺陷給定位。
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DCG Systems首席執行官Israel Niv 博士和MultiProbe創始人、首席執行官Andy Erickson先生簽署收購協議 |
nProber II™–DCG SEM平臺納米探針系統 |
Hyperion™–DCG AFP平臺納米探針系統 |
DCG Systems, Inc.首席執行官Israel Niv博士表示：“MultiProbe的AFP納米探針系統與DCG Systems的SEM納米探針產品構成完美組合。這兩項不同技術的整合將有助合併後的公司來更有效地解決客戶現在和將來所面臨的各種導致良率不高的電氣缺陷問題。”
MultiProbe創始人、首席執行官Andy Erickson表示：“納米探針在良率工程中變得日益重要。在這樣一個時刻，我很高興將MultiProbe交付給DCG Systems。此外，合併後客戶也會因全球應用和服務團隊整合而受益。”
根據一家同時使用Hyperion和nProber II的先進半導體廠商評論：“為加快良率提升速度，我們廣泛採用導電原子力顯微術（CAFM）和PicoCurrent成像技術來為電晶體缺陷定位，以及採用EBC來為金屬層缺陷定位。同時這兩種納米探針系統都用於我們的最先進工藝的電晶體電性分析。”
Hyperion和nProber II納米探針系統已被全球眾多客戶用於10納米級器件的開發和良率提升。
關於蔚華科技
蔚華科技成立於 1987 年，總公司設於臺灣新竹。蔚華科技提供半導體、平面顯示器、微機電系統與其他高科技產業相關產品及整合性服務。從IC設計、晶圓製造、封裝、測試、驗證、診斷與特性分析、量測工具、生產資訊系統整合等的研發、製造、通路銷售及技術支援之領導廠商。目前全球據點遍及臺灣、美國、中國大陸以及香港。蔚華科技網址：www.spirox.com.tw
關於DCG Systems
DCG Systems, Inc.是行業領先的電氣失效分析和定位，以及電路微修改設的備供應商。服務於廣大半導體和電子製造商以從事工藝開發、良率提高和失效分析應用。DCG Systems已在全球部署了超過1500套系統，通過位於加州弗里蒙特的總部以及設在美國、日本、臺灣、韓國、馬來西亞、新加坡、以色列和德國的辦事處為全球客戶提供服務。瞭解DCG Systems的詳情，請訪問：www.dcgsystems.com 。
