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Model Number
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ML7000
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Model Name
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JadeML
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R, G, B MicroLED Chip
on Wafer |
2" 4" 6"
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Inspection Items
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Whole Wafer PL Scan
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PL Intensity
PL Wavelength
PL FWHM PL Dominant Wavelength
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Non-contact Whole Wafer Leakage Chip Detection
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Spatial Resolution
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Standard Mode
(MicroLED Chip > 20 µm) |
2 µm / pixel
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High Resolution Mode
(MicroLED Chip 5 - 20 µm) |
1 µm / pixel
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Spectral Resolution
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1 nm
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Measurement Time
(@4” Wafer) |
Standard Mode
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PL Scan：7.5 mins
Leakage Detection：15 mins
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High Resolution Mode
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PL Scan：30 mins
Leakage Detection：60 mins
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南方科技成立于2014年8月，创办团队集合了光学、材料、物理、信息等跨领域人才，将新颖的光学设计观念导入光学工程领域。透过先进光学简单化、模块化、数字化的核心理念，使研究人员专注在研究开发工作，改善实验设计观念、提升研究效率、缩短研发时程、挥洒研发创意，加速研究与产业技术发展的进程。南方科技以『5D显微术』与『数字光学』两大核心技术为基础，将崭新的光学观念与技术导入先进材料分析、生医影像、显微3D光学检测与数字光学应用四大应用领域。在不同的应用领域，南方致力于研发与创新，深入了解行业痛点并且专注解决关键问题。
