11UP0150F,目前版本A (於2009年推出)
Tester configuration (Resource) as below
Slot0~3 DPIN96
Slot4 DPS16
Slot5 DPIN96
Slot6 DPIN96
Slot7 Multiwave
Slot8 DMS-AWG / DIG / VIS
Slot 9 DIBU
差異處為11UP0150F AGND與DGND分開, Relay control bit (cbit) 部份全部由客戶自行跳接選用
layout & placement部份採全新設計及Slot7增加Multiwave功能
