奈米探針是目前先進半導體製程中進行電性量測的重要工具，大量應用於研發階段與故障分析。當製程進入10奈米以下，所需要使用的探針規格要求越來越高，埃爾思科技能提供高品質奈米探針（距離針尖奈米的位置，探針直徑小於30奈米），能勝任3奈米製程故障分析的需求。
埃爾思科技是一群來自中研院物理所離職創業的博碩士科研團隊所組成，專精於表面科學以及電化學技術研發與整合應用，師承中研院院士鄭天佐在單原子針SAT的科學探索成就，2019年正式成立埃爾思科技(ALES Tech INC.)於高雄並獲得中研院授權相關專利技術創業至今，公司兩大核心業務為提供微米到奈米等級的探針產品作為晶圓或面板電性檢測之必要耗材，以及研發GFIS-FIB(氣體場離子源聚焦離子束設備)作為半導體先進製程之電路修補與故障分析的最佳解決方案。目前在桃園、新竹以及高雄皆設有營運與研發推廣據點，更多訊息請至埃爾思官網www.alestech.tw查詢。
