國際自動化測試與量測大廠NI開發的STS，提供可快速部署到生產的測試系統，適用於半導體元件量產測試環境，尤其射頻(RF)技術是NI的強項(如PA, FEM, Tuner, WiFi, BT, 以及提供高功率(>40瓦)RF訊號源等)。此外，PXI平台開放式與模組化的設計，可獲得更強大的計算能力及豐富的儀器資源，進一步提升半導體測試效率，降低測試成本。
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NI STS 功能
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✓ 強大的軟體工具：
測試程式開發、調整和部署
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NI半導體測試軟體可幫助測試工程師開發、調整、最佳化、部署和維護半導體測試系統。透過針對產業標準TestStand環境的附加模組，半導體測試工程師可獲得一流的測試程式開發和除錯使用者體驗。
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✓ 適用主流半導體製造環境
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NI STS 適用於主流半導體製造環境，可輕鬆整合到量產測試設備：
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✓ 高吞吐量測試最佳化
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更高的測試產出，節省您的總體成本！
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應用領域
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測試挑戰
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NI STS 解決方案
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RFIC
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現代的射頻前端模組發展趨勢是將更多模組(如功率放大器，低雜訊放大器(LNA)，雙工器和天線開關)封裝到單個組件中。
針對多模多頻段的前端模組也增加了整體測試系統的複雜性。
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5G RFIC
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3GPP 定義的 5G 三大關鍵性能指標：
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PMIC
電源管理
晶片
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隨著晶片整合度增加，電源管理晶片的結構不僅採單一拓撲結構(如 Buck 電路進行設計)，也會向多個類比輸出通道、數位晶片控制等高整合度方向演進，需要更高密度／精度及類比／數位測試的整合測試系統。
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MEMS
微機電系統
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減少微機電系統(MEMS)測試所需的測試時間、測試系統體積與整體成本，並同時兼顧量測的品質。
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NI為自動化測試與自動化量測系統的全球領導者，成立於1976年，全球超過50個國家設有據點，全球客戶數達35,000家以上，2018年營業額為13.6億美元。近年積極參與5G 技術演進與研發新一代無線通訊系統，並與指標企業合作，提供5G應用產品的測試解決方案。
