半导体封装测试解决方案专业品牌蔚华科技（TWSE: 3055）再创技术高峰，业界首创的专利「蔚华激光断层扫描（SpiroxLTS）」技术再拓展应用领域，推出SP8000S与SP8000SE检测系统，实现TSV孔（Through Silicon Via，硅通孔）之非破坏性实时检测，可有效掌握孔壁缺陷、孔底氧化物残留与孔深等关键信息，为业界解决长期以来TSV制程质量难以非破坏实时监控的瓶颈。

因应公司业务发展策略，自2025年6月1日起，蔚华电子科技（上海）有限公司上海办公室已由祖冲之路1077号2幢3201室搬迁至张江微电子港。

半导体封装测试解决方案专业品牌蔚华科技（TWSE: 3055）与经销合作伙伴恩艾（艾默生/NI）宣布将共同建置亚太区首座功率半导体动态可靠度验证实验室，瞄准亚太地区功率半导体芯片在车规验证的需求，为亚太地区半导体制造业客户就近提供验证服务，加速客户研发及生产制造的进程。

半导体测试解决方案专业品牌蔚华科技（TWSE: 3055）全新官网（www.spirox.com）于2025年1月1日正式上线，为客户与合作伙伴带来崭新的数位互动体验。此次改版全面升级，从设计风格到使用体验，皆展现出对于业务发展、客户服务与信息安全的高度重视，同时也充分传递蔚华科技积极转型与创新发展的品牌价值。

半导体设备及解决方案专业品牌蔚华科技（TWSE: 3055）于光学检测领域取得突破，自2023年底推出非破坏性碳化硅（SiC）缺陷检测系统，广受市场肯定。今年将于4月24至4月26日电子生产制造设备展的第三代半导体专区登场（展位号N214），展示旗下数字光学品牌南方科技的光学检测系统，以及具有高附加价值的芯片测试设备和维修服务。其目标是最大化产品服务效益，协助客户在当前热门的第三代半导体、功率半导体、Micro LED三大市场商机中取得优势。

半导体测试解决方案专业品牌蔚华科技（TWSE: 3055）携手旗下数字光学品牌南方科技，共同推出业界首创的JadeSiC-NK非破坏性缺陷检测系统，采用先进非线性光学技术对SiC衬底进行全片扫描，找出衬底内部的致命性晶体缺陷，用以取代现行高成本的破坏性KOH（氢氧化钾）蚀刻检测方式，可提升产量并有助于改善制程。若以每个SiC晶锭需蚀刻2片衬底来计算，JadeSiC-NK可为具有100个长晶炉的衬底厂省下每年5600万因蚀刻而损耗的成本。