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微機電晶圓級測試系統(MPP)
AEM AFORE MPP多用途框架/晶片探針系統提供從實驗室開發到大量生產的自動探針測試,MPP平台的模組化設計適用於測試各類元件,例如以黑體為刺激源的熱感測器。
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