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微機電晶圓級測試系統(AIOLOS)
AEM AFORE AIOLOS壓力感測器測試系統提供從實驗室開發到大量生產的自動探針測試,AIOLOS具備創新的主動校準功能,能夠在晶圓切割後的探針測試中,最大限度地提高探針一次成功(One touch-down)接觸晶圓上的晶粒數量。
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