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半導體測試系統(STS)
STS是一款既有ATE解決方案,適用於射頻(RF)、混合式訊號及微機電(MEMS)半導體裝置,不僅可縮短產品上市時間又可降低測試成本。STS可用於量產測試單元,支援機械手臂、分類機與晶圓針測機,並具備標準彈簧探針配置,可支援高度轉移的測試程式及測試載板。
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