蔚華科技及子公司思衛科技將於4月10日出席 NI Test Forum 創新測試論壇，共同探討寬能隙元件可靠度測試及矽光子測試挑戰與解決之道！
期待與業界先進交流，共同推動測試技術的進步！
活動議程
| 09:00 ~ 09:30 | 報到與實機展示交流 | ||
| 09:30 ~ 10:20 | 主題演講 Luke Schreier, NI Global Sales & Marketing Vice President |
||
| 10:20 ~ 10:30 | 茶歇與實機展示交流 | ||
| 10:30 ~ 12:30 | 大師對談： 當 AI 遇上量測，台灣科技製造的最後一哩路 主持人：DIGITIMES 研究中心專案經理 姚嘉洋 主講人：
|
||
| 12:30 ~ 13:30 | 午餐 | ||
| 13:30 ~ 14:00 | Track A 測試軟硬體專題 |
Track B 先進應用測試專題 |
Track C 使用者應用分享專題 |
|
Inside NI's Software Strategy: Accelerating User Productivity and Insights
國家儀器
|
優化 5G/6G ORAN網路測試：FR2 OAI 與可重構智慧表面（RIS）的實踐分享
稜研科技
|
速開發效率的 LabVIEW 新功能
國家儀器
|
|
| 14:00~14:30 |
從概念到現實：6G 及 NTN 原型開發的挑戰與突破
國家儀器
|
揭開寬能隙元件可靠度測試的面紗
國家儀器/蔚華科技
|
剖析 LabVIEW 設計架構與使用時機
智造未來：Python, LabVIEW, AI 工具選擇探討
吳志二
剖析 LabVIEW 設計架構與使用時機
楊志龍
|
| 14:30~14:50 | 茶歇與實機展示交流 | ||
| 14:50~15:20 |
提升功率半導體 PMIC 驗證與測試效率
優立測科技
|
矽光子測試挑戰與解決之道
思衛科技
|
嵌入式 RIO 案例分享
虛擬電廠微電網光充儲高速電力量測與控制應用
明志科大電機系
基於嵌入式系統的可攜式有機微量氣體分析儀與系統整合應用
創控科技
|
|
15:20-15:50
|
高頻、高精度高密度：PXI 於次世代射頻測試系統之實踐
國家儀器
|
運用 Power HIL 模擬驗證技術結合實時系統提升 EV 產品開發效率與安全等級
致茂電子
|
資料擷取 DAQ 案例分享
3D NIR 於半導體檢測應用
芯聖科技
應用 cDAQ 解碼馬達與減速機的 NVH 密碼
巨克富科技
|
| 15:50~16:10 |
茶點與實機展示交流
|
||
|
16:10-16:40
|
The Intelligent Edge: Applying AI/ML to Software-Defined 6G Networks
國家儀器
|
矽光子光電測試系統一體化於探針台的應用
Quantifi Photonics
|
模組化儀器 PXI 案例分享
PXI 模組化平台打造智慧AI生產測試系統
統亞電子
探討高壓、高流、高頻、高溫技術的 WBG 靜態動態解決方案
佳測新技
|
|
16:40-17:00
|
歡樂抽獎 | ||
**活動主辦單位保留議程內容變更、活動流程變更之所有權利**
活動所有單位
參加辦法
- 本活動報名截止日為4月7日(一)。主辦單位將視報名狀況提前或延後線上報名時間。
- 參加方式：實體活動。完成報名後，另行寄發報到通知信。
- 本活動採預先線上報名並完成登錄手續，請勿偽造他人身份資料進行報名以免觸犯法律，主辦單位保留報名資格之最後審核權利。
- 本活動將由主辦單位進行出席資格審核，與主題及屬性符合者為優先考量。
- 通過審核者，系統將於活動前以電子郵件方式寄報到通知信到您的電子信箱，以示您的出席資格，未通過審核者，亦會收到一封婉拒通知信。若您未收到任何通知信件，請上網站查詢。
- 活動當日，請攜帶含有報到編號/QR Code的「報到通知」至活動現場完成報到手續。
- 凡參加本次活動所舉辦之贈品或抽獎，因有登錄資料不實或冒用他人身份，主辦單位有權取消其得獎資格。
- DIGITIMES保留修改本活動規則之權利，毋須另行作出解釋或通知。
- 若因不可預測之突發因素，主辦單位得保留研討會課程及講師之變更權利。
- 本次活動若適逢天災(地震、颱風等)不可抗拒之因素，將延期舉辦，時間另行通知。
- 如對於本活動有任何疑問，請來信洽詢活動小組：seminar@digitimes.com。
