依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。
按一下「全部接受」,代表您允許我們置放 Cookie 來提升您在本網站上的使用體驗、協助我們分析網站效能和使用狀況,以及讓我們投放相關聯的行銷內容。您可以在下方管理 Cookie 設定。 按一下「確認」即代表您同意採用目前的設定。
動態H3TRB與DRB功率半導體測試系統
NI SET的動態H3TRB與DRB測試系統將SiC與GaN置於動態高濕高溫逆向偏差(H3TRB)或動態逆向偏壓(DRB)的測試條件下,運用具有高電壓尖峰與快速電壓上升的動態汲極刺激源,了解新故障機制所造成的影響。
探索更多產品
EXPLORE MORE